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產品介紹
XC3020電子器件噪聲分析儀 噪聲測試：測量半導體分立器件和集成電路的低頻至超低頻噪聲參數，測試范圍和精度滿足國家標準、國家軍用標準以及行業標準的相應產品技術規范。 可靠性分析：根據噪聲頻譜分析和時間波形分析，檢測半導體分立器件和集成電路的潛在缺陷，對其可靠性進行加嚴篩選和故障診斷，對壽命及環境應力適應性進行預估。 分立器件：電壓基準和調壓二極管，硅功率晶體管，GaAs MESFET&HEMT&HBT ，JFET，MOSFET，光電偶合器，VDMOS功率管，IGBT，特種器件等。